@article{oai:dmu.repo.nii.ac.jp:00001100,
 author = {小松, 禎子 and 小松, 孝昭 and 谷口, 勲 and 黒柳, 享義 and 藤掛, 彰則 and 由布, 哲夫 and 尾崎, 文武 and 中村, 日出彦 and 東, 昭宏 and 酒井, 良彦 and 高柳, 寛 and Komatsu, Sachiko and Komatsu, Takaaki and Yaguchi, Isao and Kuroyanagi, Takayoshi and Fujikake, Akinori and Yufu, Tetsuo and Ozaki, Fumitake and Nakamura, Hidehiko and Higashi, Akihiro and Sakai, Yoshihiko and Takayanagi, Kan},
 issue = {2},
 journal = {Dokkyo journal of medical sciences},
 month = {Jul},
 note = {目的:虚血性心疾患の危険因子としてメタボリックシンドロームが注目されているが,その背景にはインスリン抵抗性が存在している.一方,虚血性心疾患の治療において経皮的冠動脈形成術(percutaneouscoronary intervention:PCI)は有用な治療法であるが再狭窄が課題である.近年薬剤溶出性ステント(Drugelutingstent:DES)が臨床応用され再狭窄は減少しているものの,ステント血栓症や晩期再狭窄であるlatecatch up 現象などの慢性期における新たな課題が散見されている.今回我々はインスリン抵抗性とDES 留置患者の慢性期の心血管イベントの関連を調べるためにインスリン抵抗性をHomeostasis Model Assessment 指数(HOMA-IR)を用いて検討した.方法:2004 年8 月より2008 年11 月までにPCI を施行しDES を使用した109 例についてHOMA-IR を計測しインスリン抵抗性を認める群(P 群:n=63)と認めない群(N 群:n=46)にわけ慢性期における心血管イベントについて検討した.結果:観察期間は平均で5.48±1.30 年であった.心臓死,再狭窄,心筋梗塞,脳梗塞,心不全,ステント血栓症においては両群間において有意差を認めなかった.しかしlate catch up 現象においてはP 群12.7%とN 群2.2%と有意差を認めた(p=0.048).結論:インスリン抵抗性はDES 留置後のlate catch up 現象の予測因子であった.インスリン抵抗性を改善させることにより慢性期における心血管イベントのさらなる減少が期待される., PURPOSE:Percutaneous coronary intervention( PCI) isan effective treatment for patients with ischemic heart disease;especially, restenosis is suppressed after drug-elutingstent (DES) implantation. However, several problemsstill remain. Previously, we reported neo-intimal proliferationafter DES implantation that was associated with insulinresistance. The aim of this study was to clarify whether insulinresistance was associated with Major Adverse Cardiacand Cerebrovascular Events (MACCE) after DES implantation.METHODS:We researched the clinical records of 109patients who had been subjected to elective PCI and DESimplantation between May 2007 and December 2010. Wedistributed these patients by the value of homeostasis modelassessment of insulin resistance (HOMA-IR) into aGroup P (n=63;HOMA-IR &#8805; 2.5, positive) and a Group N(n=46;HOMA-IR<2.5, negative), and examined the relationshipbetween HOMA-IR and MACCE.RESULTS:The observation period was 5.48±1.30years. There were no differences between the two groupsin the occurrence of cardiac death, restenosis, stroke, acutemyocardial infarction, heart failure and stent thrombosis.But late catch-up phenomenon in group P was significantlyhigher than in group N (12.7 % vs 2.2 % p=0.042). The logisticanalysis showed that the only independent predictorof late catch-up phenomenon was insulin resistance (OR6.55;95 % CI 0.79-54.32, p=0.049).CONCLUSION:We suggest that insulin resistance is auseful predictor of late catch-up phenomenon;furthermore,improvement of insulin resistance may contribute toprevent late catch-up phenomenon after DES implantation., 原著, Original},
 pages = {105--112},
 title = {インスリン抵抗性から見た薬剤溶出性ステント留置後のlate catch up 現象についての検討},
 volume = {40},
 year = {2013},
 yomi = {コマツ, サチコ and コマツ, タカアキ and ヤグチ, イサオ and クロヤナギ, タカノリ and フジカケ, アキノリ and ユフ, テツオ and オザキ, フミタケ and ナカムラ, ヒデヒコ and ヒガシ, アキヒロ and サカイ, ヨシヒコ and タカヤナギ, カン}
}